Kính hiển vi công nghiệp USPM-RU-W

Model: USPM-RU-W

Liên hệ: 0936.49.67.69

TỔNG QUAN VỀ KÍNH HIỂN VI USPM-RU-W

USPM-RU-W của Olympus cho phép đo nhanh và chính xác các bề mặt đường cong và diện tích nhỏ

Máy quang phổ vi mô USPM-RU-W NIR của Olympus thực hiện phép đo quang phổ nhanh, chính xác trên nhiều bước sóng từ ánh sáng khả kiến ​​đến cận hồng ngoại. Khả năng dễ dàng đo độ phản xạ của các khu vực cực nhỏ hoặc bề mặt cong không thể đo được bằng máy quang phổ thông thường , làm cho USPM-RU-W trở nên phù hợp tối ưu để phân tích các thành phần quang học hoặc các bộ phận điện tử nhỏ

Máy quang phổ vi mô cận hồng ngoại

■ Độ phản xạ, Độ dày màng, Màu vật thể và độ truyền qua được đo bằng giây

■ Dải bước sóng rộng từ 380 đến 1050 nm

■ Đo độ phản xạ trên bề mặt cong mà không cần tiếp xúc

Đo độ phản xạ: Đo độ phản xạ của một khu vực nhỏ có đường kính từ 17 đến 70 um

Đo độ dày màng: Sử dụng dữ liệu phản xạ để đo độ dày của màng một lớp hoặc nhiều lớp khoảng 50 nm đến 10 μm.

Đo màu đối tượng: Hiển thị sơ đồ màu XY, sơ đồ màu L*a*b* và các giá trị số liên quan của chúng dựa trên dữ liệu phản xạ.

Đo mức truyền tải (Có sẵn dưới dạng tùy chọn): Đo hệ số truyền qua của mẫu phẳng bằng cách truyền chùm ánh sáng song song 2 mm xuyên qua mẫu tới phần tử chấp nhận phép đo quang phổ.

Đo độ phản xạ ở góc tới 45 độ (Có sẵn dưới dạng tùy chọn): Đo hệ số phản xạ ở góc tới 45 độ bằng cách phản xạ các chùm ánh sáng song song 2 mm tới các bộ phận tiếp nhận phép đo quang phổ.

Đo nhanh các bề mặt đường cong và diện tích nhỏ

Cung cấp phép đo tốc độ cao: Các phép đo nhanh, có độ lặp lại cao có thể đạt được trong vài giây bằng cách sử dụng cách tử trường phẳng, cảm biến đường thẳng và phép đo quang phổ tốc độ cao.

Thích hợp tối ưu để đo độ phản xạ của các bộ phận và ống kính cực nhỏ: Olympus đã thiết kế một vật kính chuyên dụng mới cung cấp các phép đo không tiếp xúc trên diện tích có đường kính từ 17 đến 70 μm. Thấu kính mới mang lại khả năng lặp lại cao trên cả các bề mặt cong hoặc các bộ phận điện tử nhỏ.

Không cần xử lý chống phản chiếu ở mặt sau của mẫu: Việc đo chính xác độ phản xạ bề mặt có thể được thực hiện mà không cần thực hiện các bước tốn kém cần thiết để ngăn chặn sự phản xạ bề mặt phía sau. Ánh sáng phản chiếu bề mặt phía sau được giảm bớt bằng các phương tiện quang học đặc biệt ngăn chặn tất cả sự phản xạ ánh sáng ngoài tiêu cự tương tự như hệ thống tiêu điểm. Cho dù thành phần quang học của bạn là hình cầu, phi cầu hay phẳng, USPM-RU-W không yêu cầu chuẩn bị mẫu thông qua xử lý chống phản chiếu.

Các phương pháp đo độ dày màng hiện có

Độ dày màng một lớp hoặc nhiều lớp có thể được phân tích theo dữ liệu độ phản xạ quang phổ đo được. Bạn có thể chọn phương pháp đo tối ưu cho ứng dụng.

Phương pháp đỉnh-thung lũng: Phương pháp này được sử dụng để tính toán độ dày màng dựa trên các khoảng thời gian giữa đỉnh và đáy của giá trị độ phản xạ quang phổ đo được và có hiệu quả để đo màng một lớp. Không cần cài đặt phức tạp nên việc đo độ dày màng rất dễ dàng.

Phương pháp biến đổi Fourier: Phương pháp này được sử dụng để tính toán độ dày màng dựa trên khoảng thời gian giữa các giá trị độ phản xạ quang phổ đo được và có hiệu quả để đo màng đơn lớp và đa lớp. Phương pháp biến đổi Fourier loại bỏ nhiễu, do đó có thể phân tích khi khó phát hiện các giá trị đỉnh và đáy.

Phương pháp điều chỉnh đường cong: Phương pháp này được sử dụng để tính toán độ dày màng bằng cách ước tính cấu trúc nào có chênh lệch nhỏ nhất giữa độ phản xạ quang phổ đo được và độ phản xạ tính toán cho cấu trúc đó và có hiệu quả để đo màng một lớp và nhiều lớp. Phương pháp điều chỉnh đường cong cũng giúp phân tích màng mỏng trong đó các giá trị đỉnh và đáy không rõ ràng.

ỨNG DỤNG ĐA DẠNG

Đáp ứng nhu cầu đo lường đa dạng ở tốc độ cao và độ chính xác cao

- Đánh giá lớp phủ ống kính về độ phản xạ, màu sắc và độ dày màng.

• Ống kính máy ảnh điện thoại di động
• Ống kính máy chiếu
• Ống kính máy ảnh kỹ thuật số
• Ống kính cảnh tượng

- Kiểm tra độ phản xạ và độ dày màng của các bộ phận điện tử nhỏ.

• Gói LED
• Bảng mạch in

- Đo độ phản xạ, độ dày màng và độ truyền qua của các phần tử quang học phẳng.

• Bộ lọc màu LCD
• Phim quang học

- Các phần tử quang học có độ phản xạ ở góc tới 45 độ.

• Gương
• Lăng kính

PHẦN MỀM:

Phần mềm phân tích quang phổ với giao diện người dùng dễ sử dụng

Hiển thị dễ hiểu: Thay đổi bố cục, vị trí, kích thước và mức độ hiển thị của từng cửa sổ theo mục đích đo lường và nhu cầu của người dùng.

Kết quả đo đa dạng: Đồ thị và văn bản về độ phản xạ/độ truyền quang phổ, phép đo màu (sơ đồ sắc độ XY và L*a*b*) và các giá trị đo độ dày màng có thể được hiển thị trên một màn hình để dễ hiểu.

Điều chỉnh vị trí và lấy nét dễ dàng: Việc định vị điểm đo thật dễ dàng bằng cách sử dụng cửa sổ lấy nét để căn chỉnh trục Z và cửa sổ định tâm (CT) để căn chỉnh trục X và Y.

Tính linh hoạt cho mọi ứng dụng: Phần mềm USPM-RU-W có thể được cấu hình để đạt được hiệu suất tối ưu cho mẫu cụ thể của bạn

Chức năng thiết lập dung sai của việc xác định đạt/không đạt tự động: Hệ thống có thể được cấu hình để tự động đưa ra các chỉ định tốt/không tốt.